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                              徠卡多功能離子減薄儀

                              產品特點:徠卡多功能離子減薄儀Leica EM RES102 通過離子槍激發獲得離子束,以一定入射角度對樣品進行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為:對無機薄片樣品進行離子減薄,使得薄片樣品可被透射電子穿過,從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察;對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕,樣品表面離子清洗及斜坡切割,便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品

                              更新時間:2023-09-26

                              產品型號:Leica EM RES102

                              廠商性質:代理商

                              生產地址:奧地利

                              產品詳情

                              徠卡多功能離子減薄儀 Leica EM RES102

                              多功能離子減薄儀Leica EM RES102 通過離子槍激發獲得離子束,以一定入射角度對樣品進行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為:對無機薄片樣品進行離子減薄,使得薄片樣品可被透射電子穿過,從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察;對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕,樣品表面離子清洗及斜坡切割,便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品。


                              徠卡多功能離子減薄儀 Leica EM RES102

                              多功能離子減薄儀Leica EM RES102 主要技術參數:

                              · 具有2把離子槍,離子束能量為0.8keV-10keV,相對位置,可分別±45°傾斜,樣品臺傾斜角度-120°至 210°,離子束加工角度0°至90°,樣品

                              平面擺動角度<360°,垂直擺動距離±5mm。實際操作參數根據具體應用需要選擇(系統備有參考參數,也可自行設置參數并存儲)

                              · 可選配樣品臺:TEM樣品臺(?3.0mm或?2.3mm),FIB樣品清洗臺,SEM樣品臺,斜坡切割樣品臺(對樣品35°或90°斜坡切割)等

                              · SEM樣品臺可容納zui大樣品尺寸:直徑25mm,高度12mm

                              · 全無油真空系統,樣品室帶有預抽室,保證樣品交換時間<1分鐘

                              · 全電腦控制,觸摸屏操作界面,內置視頻觀察系統,可實時觀察樣品處理過程



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